Select an author name for summary details of all published papers in this issue; select an individual page number to access a paper.
Abergel, C., p. 1694
Anderson, D. E., p. 1676
Andersson, A., p. 1625
Azevedo, W. F. de, p. 1685
Baltz, T., p. 1688
Bayer, E. A., p. 1560
Belaich, A., p. 1560
Belaich, J.-P., p. 1560
Beynon, J., p. 1647
Blessing, R. H., p. 1541, 1549
Bolognesi, M., p. 1691
Bonilla-Rodriguez, G. O., p. 1685
Bordo, D., p. 1691
Borhani, D. W., p. 1634
Bouckaert, J., p. 1569
Boulé, J. B., p. 1662
Bringaud, F., p. 1688
Brown, C. K., p. 1644
Büchert, T., p. 1673
Buck, J., p. 1641
Bunick, G. J., p. 1513
Canduri, F., p. 1685
Carr, S., p. 1630
Chang, W., p. 1659
Chen, G., p. 1644
Chen, Y. W., p. 1535
Chenivesse, S., p. 1694
Ciszak, E., p. 1541
Claverie, J.-M., p. 1694
Clore, G. M., p. 1535
Comsa, D.-S., p. 1702
Cosenza, L. W., p. 1688
Cowtan, K., p. 1612
Deacon, A. M., p. 1702
Delarue, M., p. 1662
Delatorre, P., p. 1685
Dellamano, M., p. 1685
De Ranter, C. J., p. 1638
Donahue, J. L., p. 1691
Dorner, L. F., p. 1652
Eger, B. T., p. 1656
Enroth, C., p. 1656
Ermakowa, I., p. 1680
Ermler, U., p. 1673
Evdokimov, A. G., p. 1676
Expert-Bezançon, N., p. 1662
Fadel, V., p. 1685
Fan, R., p. 1659
Féthière, J., p. 1625
Fisher, A. J., p. 1647
Fritz, G., p. 1673
Frolow, F., p. 1560
Garau, G., p. 1699
Geremia, S., p. 1699
Guerra, B., p. 1680
Gui, L., p. 1659
Guo, H.-C., p. 1652
Han, Q., p. 1665
Hanson, B. L., p. 1513
Harp, J. M., p. 1513
Hemmings, A. M., p. 1630
Hersh, L. B., p. 1644
Hoffman, R. M., p. 1665
Honda, R. T., p. 1685
Huber, H., p. 1673
Hummel, W., p. 1696
Isogai, Y., p. 1577
Issinger, O.-G., p. 1680
James, R., p. 1630
Jeudy, S., p. 1694
Jourdan, N., p. 1662
Kadokura, K., p. 1577
Kankare, J., p. 1670
Katsuya, Y., p. 1668
Keinänen, K., p. 1625
Kini, R. M., p. 1702
Kleanthous, C., p. 1630
Kobayashi, M., p. 1641
Kolatkar, P. R., p. 1702
Koshizuka, Y., p. 1577
Kroneck, P. M. H., p. 1673
Kucera, R. B., p. 1652
Kuhn, P., p. 1702
Lamed, R., p. 1560
Lamminmäki, U., p. 1670
Lamour, V., p. 1583
Larson, T. J., p. 1691
Lescar, J., p. 1662
Leung, A. K. W., p. 1634
Lian, W., p. 1644
Liang, D., p. 1659
Loris, R., p. 1569
Lu, C.-T., p. 1668
Luz, J. G., p. 1641
Madauss, K., p. 1644
Madden, D. R., p. 1625
Magrum, L. A., p. 1541
Mellman, D., p. 1641
Monchois, V., p. 1694
Moras, D., p. 1583
Müller, J., p. 1696
Nakamura, Y., p. 1668
Newcomer, M. E., p. 1641
Niefind, K., p. 1680, 1696
Nishimura, K., p. 1668
Nishino, T., p. 1656, 1656
Nishio, T., p. 1577
O'Loughlin, T. J., p. 1652
Ogawa, M., p. 1577
Okamoto, K., p. 1656
Oku, T., p. 1577
Pagès, S., p. 1560
Pai, E. F., p. 1656
Pakhomova, S., p. 1641
Pangborn, W. A., p. 1541
Papanicolaou, C., p. 1662
Park, S.-Y., p. 1577
Peumans, W. J., p. 1638
Poterszman, A., p. 1583
Potier, N., p. 1583
Prasad, G. S., p. 1665
Rabijns, A., p. 1638
Rafanan, E. R., p. 1647
Rajaseger, G., p. 1702
Randaccio, L., p. 1699
Riebel, B., p. 1696
Rodgers, D. W., p. 1644
Ross, L. J., p. 1634
Roth, A., p. 1673
Rougeon, F., p. 1662
Routzahn, K. M., p. 1676
Sakai, T., p. 1668
Sato, M., p. 1656
Satoh, T., p. 1577
Sawada, M., p. 1668
Schildkraut, I., p. 1652
Schomburg, D., p. 1696
Shen, B., p. 1647
Shimizu, H., p. 1577
Shimon, L. J. W., p. 1560
Shiro, Y., p. 1577
Shoham, Y., p. 1560
Smith, G. D., p. 1541, 1549
Spallarossa, A., p. 1691
Sridhar, V., p. 1665
Stephens, P. W., p. 1549
Stetter, K. O., p. 1673
Sukumar, N., p. 1662
Sun, X., p. 1665
Suruga, K., p. 1577
Sweeney, S., p. 1652
Tada, T., p. 1668
Takao, M., p. 1668
Tame, J. R. H., p. 1554
Tan, Y., p. 1665
Tang, Y., p. 1659
Teplyakov, A., p. 1622
Thierry, J. C., p. 1583
Timm, D. E., p. 1513
Usón, I., p. 1702
Vaccari, L., p. 1699
Vagin, A., p. 1622
Van Damme, E. J. M., p. 1638
Van Dorsselaer, A., p. 1583
Vellieux, F. M. D., p. 1688
Verboven, C., p. 1638
Viezzoli, M. S., p. 1699
Von Dreele, R. B., p. 1549
Wada, K., p. 1668
Walker, D., p. 1630
Wang, C. E., p. 1591
Waugh, D. S., p. 1676
White, E. L., p. 1634
Wu, C., p. 1659
Wu, D., p. 1644
Wyns, L., p. 1569
Xu, M., p. 1665
Xu, Q., p. 1652
Yamada, S., p. 1577
Zhang, J., p. 1659
Copyright © International Union of Crystallography
IUCr Webmaster