Select an author name for summary details of all published papers in this issue; select an individual page number to access a paper.
Ashby, J. A., p. 836
Baker, E. N., p. 802
Balasubramanian, M., p. 773
Bao, R., p. 757
Bartlam, M., p. 776
Behling, K., p. 809
Betzel, C., p. 809
Bonderoff, S. A., p. 843
Bonifácio, C., p. 856
Cao, Y., p. 776
Cao, Z., p. 853
Chen, Y., p. 757
Cherney, M. M., p. 839
Chu, H. N., p. 829
Clemons, W. M., p. 746
Cody, V., p. 762
Davlieva, M., p. 751
Del Campo, M., p. 832
di Guilmi, A.-M., p. 757
Duan, X., p. 849
Duarte, A. G., p. 856
DuBois, J. L., p. 818
Edwards, M. J., p. 846
Eichert, A., p. 809
Erdmann, V. A., p. 809
Feng, C., p. 776
Ferreira, R. N., p. 798
Flatman, R. H., p. 846
Förster, C., p. 809
Frolet, C., p. 757
Fukuda, M., p. 822
Fürste, J. P., p. 809
Gangjee, A., p. 762
Gärtner, W., p. 853
Goblirsch, B. R., p. 818
Gómez García, I., p. 813
Gong, X., p. 776
Guimarães, B. G., p. 798
Hagelueken, G., p. 770
Hakulinen, N., p. 767, 805
Hattori, M., p. 784
Hefty, P. S., p. 791
Hickey, J. M., p. 791
Huang, A., p. 795
Huang, H., p. 770
Imada, K., p. 825
Ishitani, R., p. 784
James, M. N. G., p. 839
Jänis, J., p. 805
Jin, Y., p. 784
Kallio, J. M., p. 767
Kallio, J. P., p. 805
Kamitori, S., p. 829
Kang, H. J., p. 802
Karunan Parth, S., p. 843
Kinoshita, M., p. 825
Kobayashi, J., p. 829
Kortázar, D., p. 813
Kotzsch, A., p. 779
Kubota, K., p. 822
Lamb, A. L., p. 791
Lambowitz, A. M., p. 832
Lawson, D. M., p. 836, 846
Li, W., p. 757
Lin, L., p. 762
Liu, J., p. 839
Losi, A., p. 853
Lou, Z., p. 776
Luo, M., p. 795
Maksimainen, M., p. 767
Martínez-Chantar, M. L., p. 813
Martínez-Cruz, L. A., p. 813
Mato, J. M., p. 813
Matsunami, H., p. 825
Maule, A. J., p. 836
Maxwell, A., p. 846
Meng, Z., p. 776
Minamino, T., p. 825
Mitchenall, L. A., p. 846
Moura, I., p. 856
Moura, J. J. G., p. 856
Mueller, T. D., p. 779
Nagata, K., p. 822
Nagata, Y., p. 822
Nagem, R. A. P., p. 798
Naismith, J. H., p. 770
Najmudin, S., p. 856
Namba, K., p. 825
Neelagandan, K., p. 773
Nickel, J., p. 779
Nisimasu, H., p. 784
Niu, S., p. 795
Nureki, O., p. 784
Nyyssölä, A., p. 805
Ogata, H., p. 853
Okai, M., p. 822
Oyenarte, I., p. 813
Pace, J., p. 762
Paterson, N. G., p. 802
Pauleta, S. R., p. 856
Pimenta, A. M. C., p. 798
Ponnuswamy, M. N., p. 773
Ramasamy, S. K., p. 746
Rao, Z., p. 788
Rates, B., p. 798
Richardson, M., p. 798
Romão, M. J., p. 856
Rouvinen, J., p. 767, 805
Sanchez, E. O. F., p. 798
Sanders, D. A. R., p. 843
Sathya Moorthy, P., p. 773
Sebald, W., p. 779
Shamoo, Y., p. 751
Solomonson, M., p. 839
Stevenson, C. E. M., p. 836, 846
Streit, B. R., p. 818
Sun, Y., p. 776
Tanokura, M., p. 822
Timoharju, T., p. 767
Turunen, O., p. 767
van Straaten, K. E., p. 843
Vernet, T., p. 757
Wang, D., p. 795
Wei, L., p. 788
Weiner, J. H., p. 839
Whitfield, C., p. 770
Wilmot, C. M., p. 818
Xu, Y., p. 788
Xue, F., p. 776
Yagi, T., p. 829
Yamane, M., p. 825
Yang, A., p. 788
Yang, D., p. 776
Ye, H., p. 849
Yin, Y., p. 795
Yoshida, H., p. 829
Yoshikane, Y., p. 829
Zhang, K., p. 776
Zhang, Y., p. 839
Zhang, Z., p. 757
Zhao, W., p. 788
Copyright © International Union of Crystallography
IUCr Webmaster