Journal of Applied Crystallography

Volume 45 Part 4 (August 2012)


author index


Issue contents

Select an author name for summary details of all published papers in this issue; select an individual page number to access a paper.


Altamura, D., p. 869
Altomare, A., p. 789

Balzar, D., p. 838
Bari, S., p. 674
Beek, W. van, p. 738
Beisel, D., p. 674
Berndt, D., p. 674
Bhagavannarayana, G., p. 679
Blakeley, M. P., p. 686

Caliandro, R., p. 738
Cambedouzou, J., p. 662
Cardoso, L. P., p. 621
Carlot, G., p. 826
Caronna, C., p. 807
Castelier, É, p. 826
Chen, R.-Q., p. 758
Cheng, Q.-D., p. 758
Chernyshov, D., p. 738
Choi, B. G., p. 719
Chushkin, Y., p. 807
Clark, J., p. 778
Clark, S. M., p. 726
Cuocci, C., p. 789

Dauvergne, F., p. 686
Daymond, M. R., p. 627
De Caro, L., p. 869
Dhaussy, A.-C., p. 652
Diat, O., p. 662
Dijk, N. H. van, p. 748
Dobson, D. P., p. 726
Duffy, J. A., p. 748

Emerich, H., p. 738
Erko, M., p. 798

Farrugia, L. J., p. 849
Fourme, R., p. 652
Frontera, C., p. 844
Fuess, H., p. 766

Gamaleri, M., p. 826
Garcia, P., p. 826
Giacovazzo, C., p. 789
Giannini, C., p. 869
Girard, E., p. 652
Goudeau, P., p. 826
Gugov, I., p. 644

Haas, S., p. 644
Harder, R., p. 778
Harizanova, R., p. 644
Hikima, T., p. 785
Hirata, K., p. 785
Hoell, A., p. 644
Honkimäki, V., p. 652, 748
Huang, X., p. 778
Huizenga, R. M., p. 693, 705

Jeong, H. W., p. 719
Jiménez-Melero, E., p. 748
Jo, C. Y., p. 719

Kahn, R., p. 652
Kieser, C., p. 674
Kim, I. S., p. 719
Kozhevnikov, S., p. 814
Kumasaka, T., p. 785

Ladisa, M., p. 869
Lassandro, R., p. 869
Leake, S., p. 778
Li, X.-Z., p. 862
Li, Y., p. 855
Lomb, L., p. 674
Lord, O. T., p. 726
Lu, Q.-Q., p. 758
Lukat, M., p. 674

Madsen, A., p. 807
Makino, M., p. 785
Mareau, C., p. 627
Martin, G., p. 826
Maurya, K. K., p. 679
Mazzocchi, V. L., p. 621
Medjoubi, K., p. 652
Meilleur, F., p. 686
Micha, J.-S., p. 826
Milanesio, M., p. 738
Miravitlles, C., p. 844
Mizuno, N., p. 785
Moliterni, A., p. 789
Müter, D., p. 798
Myles, D. A. A., p. 686

Neef, N., p. 674
Nespolo, M., p. 834
Newton, M. C., p. 840
Nishino, Y., p. 840

Offerman, S. E., p. 693, 705
Ott, F., p. 814

Palancher, H., p. 826
Palin, L., p. 738
Parente, C. B. R., p. 621
Paris, O., p. 798
Peral, I., p. 844
Piron, J. P., p. 826
Popa, N. C., p. 838
Prass, J., p. 798

Radu, F., p. 814
Raghuwanshi, V. S., p. 644
Richard, A., p. 826
Rieutord, F., p. 826
Riscob, B., p. 679
Rius, J., p. 844
Rizzi, R., p. 789
Robinson, I., p. 778
Robinson, I. K., p. 840
Rouquette, H., p. 826
Rüssel, C., p. 644

San Martin, D., p. 748
Sasaki, J. M., p. 621
Schierholz, R., p. 766
Seo, S. M., p. 719
Shakir, M., p. 679
Shang, P., p. 758
Sharma, H., p. 693, 705
Shimizu, N., p. 785
Shoeman, R. L., p. 674
Siliqi, D., p. 869
Skippon, T., p. 627
Steinbrener, J., p. 674
Suescun, L., p. 834

Tatchev, D., p. 644

Urakawa, A., p. 738

Vallcorba, O., p. 844
Vijayan, N., p. 679
Viterbo, D., p. 738
Vittoria, F. A., p. 869
Vocadlo, L., p. 726

Wada, I., p. 785
Wahab, M. A., p. 679
Walter, M. J., p. 726
Wood, I. G., p. 726
Wu, Z.-Q., p. 758

Xie, X.-Z., p. 758
Xu, R., p. 855

Yamamoto, M., p. 785
Yin, D.-C., p. 758
Yoo, Y. S., p. 719
Yu, J., p. 855

Zwaag, S. van der, p. 748


Copyright © International Union of Crystallography
IUCr Webmaster