Journal of Synchrotron Radiation

Volume 21 Part 1 (January 2014)


author index


Issue contents

Select an author name for summary details of all published papers in this issue; select an individual page number to access a paper.


Aldoshin, L. S., p. 223
Als-Nielsen, J., p. 119
Amemiya, Y., p. 1
Amenitsch, H., p. 193
An, P., p. 165
Andrejczuk, A., p. 57
Antipov, A. E., p. 223
Aoyagi, H., p. 268
Arai, H., p. 268
Arfelli, F., p. 242
Astolfo, A., p. 242

Balyan, M. K., p. 127
Bazin, D., p. 136
Beck, P., p. 89
Becker, J., p. 119
Belov, A. I., p. 209
Bizen, T., p. 268
Bleher, R., p. 229
Bohon, J., p. 24
Boita, J., p. 254
Bolbat, M., p. 66
Bouvier, P., p. 89
Bratos, S., p. 177
Brinza, L., p. 235
Brister, K., p. 66
Büchi, F. N., p. 82
Burghammer, M., p. 223
Butler, I. B., p. 251

Cacho-Nerin, F., p. 193
Carbone, D., p. 111
Carnis, J., p. 264
Cha, W., p. 264
Chainani, A., p. 183
Chance, M. R., p. 24
Chappard, C., p. 136
Chen, H., p. 97
Chen, S., p. 66
Chen, Z., p. 66
Choi, S.-Y., p. 170
Chrastina, D., p. 111
Collins, S., p. 16

D'Mello, R., p. 24
Daudon, M., p. 136
Deng, J., p. 66
Dessombz, A., p. 136
Dhamgaye, V. P., p. 259
Diaz, A., p. 111
Di Cola, E., p. 223
Ding, H., p. 273
Dippel, A.-C., p. 119
Do, J. K., p. 215
Do, Y. R., p. 215
Doblas, D., p. 223
do Carmo Martins Alves, M., p. 254
Dong, J., p. 273

Ea, H. K., p. 136
Eguchi, R., p. 183
Eller, J., p. 82
Elphick, S., p. 251
Elsen, A., p. 45
Ershov, A. V., p. 209
Etzelstorfer, T., p. 111

Feser, M., p. 66
Finney, L., p. 66
Flachenecker, C., p. 66
Fukuda, K., p. 268
Furukawa, Y., p. 268
Fusseis, F., p. 251

Geraki, K., p. 235
Gleber, S.-C., p. 229
Gleber, S. C., p. 66
Goto, S., p. 268
Gowri Sankar, B., p. 259
Greve, M., p. 45
Guo, F.-Z., p. 273
Gupta, S., p. 24

Han, S. M., p. 215
Harsan, L.-A., p. 242
Hernandez, J. J., p. 223
Hess, C., p. 32
Hiraoka, N., p. 131
Hodson, M. E., p. 235
Hong, C., p. 165
Hong, Y. P., p. 229
Honkanen, A.-P., p. 104
Hornberger, B., p. 66
Hu, T., p. 165
Huotari, S., p. 104

Ignatyev, K., p. 235
Irwin, J., p. 66
Isella, G., p. 111
Ishii, H., p. 131
Ishii, K., p. 131
Ishikawa, T., p. 183, 268
Ishizawa, Y., p. 268
Itou, M., p. 57
Ivanov, D. A., p. 223

Jacobsen, C., p. 66, 229
Jacques, V. L. R., p. 111
Jarrige, I., p. 131
Jin, Q., p. 66

Kant, C., p. 259
Katayama, T., p. 183
Katsikini, M., p. 149
Khakhulin, D., p. 177
Kim, C., p. 264
Kim, H., p. 264
Kim, H. K., p. 215
Kim, H. T., p. 215
Kim, J. Y., p. 170
Kim, S. J., p. 203
Kim, Y., p. 264
Kimura, H., p. 268
Kishimoto, H., p. 1
Kiss, T., p. 183
Kitajima, Y., p. 161
Kitamura, H., p. 268
Kobayashi, M., p. 32
Kohmura, Y., p. 183
Koike, Y., p. 131
Koops, C. T., p. 45
Koyama, T., p. 268
Krempasky, J., p. 32
Kudo, K., p. 131
Kudo, T., p. 268
Kujawski, S., p. 76
Kumagai, K., p. 131

Lai, B., p. 66
Laundy, D., p. 16
Lee, H. C., p. 264
Lee, H. J., p. 215
Lee, J., p. 215
Leicknam, J.-Cl., p. 177
Li, H., p. 97
Lim, J. H., p. 215
Lioté, F., p. 136
Lodha, G. S., p. 259

Mäder, U., p. 251
Magnussen, O. M., p. 45
Mak, R., p. 66
Marmiroli, B., p. 193
Maser, J., p. 66
Matsubara, E., p. 268
Matsunami, M., p. 183
Matsushita, T., p. 268
Menk, R., p. 242
Mikhailov, A. N., p. 209
Miyawaki, J., p. 183
Mizuki, J., p. 131
Möller, J., p. 76
Monaco, G., p. 104
Montes, P. J. R., p. 143
Morais, J., p. 254
Moretti Sala, M., p. 104
Mosselmans, J. F. W., p. 235
Mundboth, K., p. 16
Murayama, H., p. 268
Murphy, B. M., p. 45

Nagamine, M., p. 57
Nakatani, T., p. 61
Nakatani, Y., p. 183
Nariyama, N., p. 268
Nase, J., p. 76
Nguyen, C., p. 136
Nho, H. W., p. 170
Nikkhah, G., p. 242
Nilges, M., p. 203
Noh, D. Y., p. 264

O'Halloran, T. V., p. 229
Odarchenko, Y. I., p. 223
Ogawa, H., p. 161
Ogawa, K., p. 183
Ogumi, Z., p. 268
Ohashi, H., p. 268
Ohata, T., p. 268
Ohno, H., p. 268
Ohta, T., p. 268
Okuda, H., p. 161
Onitsuka, R., p. 61
Orikasa, Y., p. 268
Oura, M., p. 183

Paloura, E. C., p. 149
Pankov, K. N., p. 209
Papadopoulou, L., p. 149
Patthey, L., p. 32
Paulus, M., p. 76
Paunesku, T., p. 66
Pérez, J., p. 193
Petitgirard, S., p. 89
Pinakidou, F., p. 149
Pinzer, B., p. 242

Que, E. L., p. 229
Quinn, P. D., p. 235

Ralston, C., p. 24
Reguer, S., p. 136
Rehr, J., p. 136
Reininger, R., p. 273
Rezende, M. V. S., p. 143
Roehrig, C., p. 66
Rosenthal, M., p. 223
Rouzière, S., p. 136
Runge, B., p. 45
Russel, D., p. 203

Sakurai, Y., p. 57
Salamat, A., p. 89
Sali, A., p. 203
Sano, M., p. 268
Santos, C., p. 143
Sartori, B., p. 193
Sato, H., p. 183
Sawada, K., p. 61
Schiefler, G. L., p. 111
Schmitt, T., p. 32
Schneidman-Duhovny, D., p. 203
Schofield, P. F., p. 235
Schültke, E., p. 242
Seeck, O. H., p. 45
Seike, T., p. 268
Senba, Y., p. 268
Shi, M., p. 32
Shi, Y.-B., p. 273
Shin, H.-J., p. 170
Shin, S., p. 183
Shinohara, Y., p. 1
Shu, D., p. 66
Shvyd'ko, Y., p. 16
Sigg, H., p. 111
Simonelli, L., p. 104
Singer, A., p. 5
Snyder, E., p. 66
Soares, F. M. S., p. 143
Spill, Y. G., p. 203
Spink, I., p. 66
Spirin, D. E., p. 209
Spitzer, D., p. 223
Spolenak, R., p. 111
Stampanoni, M., p. 242
Stangl, J., p. 111
Steeb, H., p. 251
Steele, J., p. 66
Sternemann, C., p. 76
Stettner, J., p. 45
Stoupin, S., p. 16
Straasø, T., p. 119
Strocov, V. N., p. 32
Süess, M. J., p. 111
Sun, J.-L., p. 273
Sutter, J., p. 16
Suzuki, Y., p. 1
Svergun, D. I., p. 280

Tai, R.-Z., p. 273
Takahashi, I., p. 61
Takahashi, S., p. 268
Takata, M., p. 268
Takeshita, K., p. 161, 268
Takeuchi, A., p. 1
Takeuchi, T., p. 268
Tamasaku, K., p. 183
Tanaka, T., p. 268
Tanaka, Y., p. 61, 183
Tanida, H., p. 268
Terekhov, V. A., p. 209
Tetelbaum, D. I., p. 209
Thiaudière, D., p. 136
Togashi, T., p. 183
Tolan, M., p. 76
Trapp, D., p. 66
Tsoukala, E., p. 149
Tsuei, K.-D., p. 131
Turishchev, S. Yu., p. 209

Uchimoto, Y., p. 268
Uruga, T., p. 268
Usami, N., p. 161

Valerio, M. E. G., p. 143
Vartanyants, I. A., p. 5
Verbeni, R., p. 104
Vine, D. J., p. 66
Vogt, S., p. 66, 229
VonOsinski, J., p. 66

Wagai, T., p. 183
Wang, J., p. 97, 170
Wang, X., p. 32
Wang, Y., p. 97, 273
Wang, Z., p. 97
Watanabe, A., p. 268
Watanuki, T., p. 131
Webb, B., p. 203
Weck, G., p. 89
Weller, S., p. 235
Wilmanns, M., p. 280
Wirkert, F. J., p. 76
Woloschak, G., p. 66
Woodruff, T. K., p. 229
Wu, Y.-Q., p. 273
Wulff, M., p. 177

Xiao, X., p. 251
Xu, W., p. 165
Xu, Z.-M., p. 273
Xue, L., p. 273

Yabashi, M., p. 183
Yagi, N., p. 1
Yamaguchi, T., p. 183
Yamamoto, T., p. 161
Yamazaki, H., p. 268
Yoon, T. H., p. 170
Yoshida, M., p. 131
Youn, S. W., p. 215
Yu, C.-J., p. 264
Yuan, Y., p. 66
Yumoto, H., p. 268

Zhang, J., p. 165
Zhu, J., p. 97
Zhu, W., p. 251
Zou, Y., p. 273
Zougrou, I. M., p. 149


Copyright © International Union of Crystallography
IUCr Webmaster