Cristallographie. Deuxième édition, revue et augmentée. By D. Schwarzenbach and G. Chapuis. Lausanne: Presses Polytechniques et Universitaires Romandes, 2006. Pp. x + 344. In French. Price (softcover) CHF 79.50 (Switzerland), EUR 55.45 (other countries). ISBN 2-88074-672-8.

Voici la deuxième édition du manuel, désor­mais classique, de Cristallographie de D. Schwarzenbach. Elle est entièrement remaniée et augmentée, avec la participation d'un deuxième auteur, G. Chapuis, par rapport à la première édition, parue en 1993 [voir Acta Cryst. (1994), A50, 652 ]. Cet ouvrage, rédigé par des cristallographes chevronnés et très renommés dans la communauté internationale, est avant tout destiné à présenter la cristallographie aux étudiants de Physique, Chimie et Sciences des Matériaux. Il introduit les notions de base, sans chercher à entrer dans des développements relatifs à la recherche de pointe. Il est donc très abordable tout en étant d'un très bon niveau. Dans un premier chapitre introductif, les auteurs rappellent les notions essentielles de calcul vectoriel et définissent le milieu cristallin et le réseau réciproque; ils présentent aussi de manière succincte les quasicristaux. Le deuxième chapitre traite de la symétrie cristalline et des groupes d'espace. Il donne également des clefs pour utiliser les International Tables for Crystallography; cet aspect pratique est particulièrement bien venu. Viennent ensuite un chapitre sur le principe de la diffraction des rayons X par les cristaux ainsi que sur les principales méthodes pour les mettre en œuvre et un chapitre, nouveau par rapport à la première édition, sur les méthodes modernes de détermination des structures cristallines, notamment la méthode de Patterson, les méthodes directes et une méthode ab initio. Un chapitre, lui aussi entièrement nouveau, est consacré à la cristallochimie et décrit les différents types de structures cristallines dont la connaissance est indispensable en Chimie du Solide, avec différents exemples. Le chapitre suivant, et c'est l'une des originalités du livre, porte sur les propriétés physiques et tensorielles des cristaux. Un dernier chapitre, enfin, propose des exercices avec solutions relatifs aux chapitres précédents. Le lecteur pourra compléter son apprentissage de la cristallographie en consultant le cours interactif de cristallographie de l'Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne, en anglais, sur le site web https://escher.epfl.ch/x-ray/ .

Les auteurs ont visé juste en donnant un exposé qui ne soit ni trop élémentaire, ni trop détaillé et fasse une bonne introduction au sujet. Quelques absences, cependant: les techniques spécifiques au rayonnement synchrotron, la méthode de Rietveld d'analyse des diagrammes de poudres, la comparaison des mérites respectifs des méthodes de diffraction des neutrons et des électrons par rapport à la diffraction des rayons X, les lois de Curie dans le chapitre des propriétés tensorielles. Les auteurs se sont donnés beaucoup de mal pour l'icon­ographie, on regrettera toutefois que les figures du chapitre sur la symétrie soient un peu difficiles à regarder.

L'ensemble est présenté de manière très claire et très pédagogique, très agréable à lire, et on le recommandera sans hésitation à tous les étudiants en Chimie et Physique du Solide et en Science des Matériaux comme à tous ceux, chercheurs et ingénieurs, qui souhaitent aborder le domaine de la Cristallographie. Il n'existe que peu d'ouvrages en français sur le sujet et on ne peut que féliciter les auteurs d'avoir mis à jour et complété leur manuel par cette deuxième édition.