Journal of Synchrotron Radiation

Volume 16 Part 4 (July 2009)


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Issue contents

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Adam, J.-F., p. 573
Arleth, L., p. 498

Banhart, J., p. 524
Barauskas, J., p. 498
Barth, R. F., p. 573
Bouchet, A., p. 587
Bräuer-Krisch, E., p. 587
Bravin, A., p. 582, 587
Brochard, T., p. 587
Broennimann, Ch., p. 489

Cerenius, Y., p. 498
Chaboy, J., p. 533
Chen, D., p. 528
Chu, W., p. 528
Crichton, W. A., p. 513
Cross, J. O., p. 494

Daniels, J. E., p. 463
David, C., p. 562
DeBeer George, S., p. 484
Deman, P., p. 573
Dinapoli, R., p. 489
Donnelley, M., p. 553
Drakopoulos, M., p. 463
Dupin, L., p. 477

Eikenberry, E. F., p. 489
Elleaume, H., p. 477, 573
Estève, F., p. 573

Falta, J., p. 494
Farion, R., p. 477
Fernández, M., p. 477
Ferrer, S., p. 505
Fouras, A., p. 553

Gastaldo, J., p. 477
Gouget, B., p. 573
Grupp, R., p. 524
Guerquin-Kern, J.-L., p. 573

Haibel, A., p. 524
Hamel, G., p. 513
Hammouda, T., p. 513
Henkel, F., p. 524
Henriquet, C., p. 469
Hintermüller, C., p. 562
Hommel, D., p. 494
Howells, M. R., p. 505
Huotari, S., p. 469

Ivanova, E. P., p. 545

Kaneko, F., p. 455
Kato, Y., p. 595
Keil, P., p. 443
Kennepohl, P., p. 484
Kieback, B., p. 524
Kinoshita, T., p. 595
Klotz, S., p. 513
Knaapila, M., p. 498
Kraft, P., p. 489

Laissue, J. A., p. 587
Le Duc, G., p. 587
Le Godec, Y., p. 513
Lützenkirchen-Hecht, D., p. 443

Marone, F., p. 562
Martel, K., p. 469
Martinez-Garcia, D., p. 513
McDonald, S. A., p. 562
Mezouar, M., p. 513
Mikuljan, G., p. 562
Monaco, G., p. 469
Morard, G., p. 513
Morgan, K. S., p. 553
Muro, T., p. 595

Nakagawa, K., p. 455
Nicolás, J., p. 505
Nielsen, S. S., p. 498
Nöthe, M., p. 524

Olsson, U., p. 498

Parsons, D. W., p. 553
Pedersen, J. S., p. 498
Pereiro, E., p. 505
Pfeiffer, F., p. 562
Philippe, J., p. 513
Piskorska-Hommel, E., p. 494
Prezado, Y., p. 582
Pylkkänen, T., p. 469

Rassool, R. P., p. 489
Renaud, L., p. 587
Renier, M., p. 582
Requardt, H., p. 477
Ricard, C., p. 477
Rousseau, J., p. 573
Ruffoni, M. P., p. 591

Schlepütz, C. M., p. 489
Schmidt, Th., p. 494
Segebarth, C., p. 477
Serduc, R., p. 587
Siebert, M., p. 494
Simonelli, L., p. 469
Siu, K. K. W., p. 553
Skinner, W., p. 553
Sobott, B. A., p. 489
Solozhenko, V. L., p. 513
Somveille, L., p. 477
Stampanoni, M., p. 562
Svensson, C., p. 498

Tanaka, M., p. 455
Taylor, G. N., p. 489
Tian, S., p. 528
Toft, K. N., p. 498

Uesugi, K., p. 553

van der Sanden, B., p. 477
Vankó, G., p. 469
Verbeni, R., p. 469
Vestergaard, B., p. 498
Vial, J.-C., p. 477

Wang, F., p. 545
Wang, Q., p. 528
Wasinger, E. C., p. 484
Watanabe, Y., p. 595
Willmott, P. R., p. 489
Wu, T.-D., p. 573
Wu, Z., p. 528

Yagi, N., p. 553
Yagi-Watanabe, K., p. 455
Yamaguchi, T., p. 494
Yu, M., p. 528

Zackrisson, M., p. 498
Zhu, Q., p. 545


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